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金刚石热沉片,实现芯片降温70℃!

时间:2025-12-02浏览次数:39

如今惊人的计算能力正使我们从人类智能迈向人工智能。随着机器能力的不断提升,它们不仅成为工具,更成为塑造我们未来的决策者。但是,强大的力量也会带来巨大的热量!

据了解,热量产生于晶体管及其互连线内部,因为电流流动会遇到电阻。这意味着大部分热量产生于半导体衬底表面附近。热量随后会向上扩散,穿过金属和绝缘层,或者直接穿过半导体本身,具体取决于封装结构。之后,热量会遇到导热界面材料,该材料旨在将热量分散开来,最终到达散热器、散热片或某种液体冷却系统,由空气或液体带走热量。

随着半导体和处理器的性能和密度不断提升,晶体管的排列也越来越紧密;单个 GPU 上就集成了 2080 亿个晶体管。所有这些紧凑化和小型化都面临着热力学限制,效率方面的创新会被热力学限制所抵消。同时,新型 3D 堆叠芯片像 “硅制摩天楼”,每层热量都难以排出,成为技术落地的最大障碍。其中,最大的问题在于芯片材料的导热性差,导致热量滞留在芯片内部并集中,从而使芯片内部温度飙升。

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散热片可以让热量横向扩散,从而分散热量,使电路冷却。但它们的位置——当然是相对而言——距离发热点较远,因此对局部过热几乎没有帮助。我们需要一种散热技术,能够将散热片精确地放置在发热点附近纳米级的范围内。而低温金刚石或许能够在这方面发挥关键作用。

在足够低的温度下直接在半导体器件上生长金刚石,该生长方法能够在400°C的高温下,在器件周围制备出“大晶粒多晶金刚石”。与传统方法相比,仅仅降低温度是行不通的,该方法在混合物中添加了更高浓度的氧气,从而蚀刻掉了非金刚石碳沉积物,避免了产生会损害而非促进导电性的烟尘。400°C的温度在CMOS器件可承受的范围内,同时又足以形成金刚石而非更多的烟尘。大晶粒也是该方法的关键所在,因为与许多彼此相邻的短晶粒层相比,大晶粒能够确保更高的导电性,因为后者无法有效地散热。

通过对界面科学与工程的深入研究,金刚石和氮化硅界面处的互混导致了碳化硅的形成,碳化硅如同声子的桥梁,促进了更高效的热传递。采用碳化硅界面后,该团队的器件热性能显著提升。

低温生长技术:通过在反应气体中加入氧气,持续蚀刻非金刚石碳沉积物,成功在 400℃下合成出多晶金刚石涂层。这个温度对 CMOS 电路及各类芯片完全安全,不会损伤任何敏感结构。
解决热阻瓶颈:在金刚石与半导体的界面,会自然形成一层碳化硅。这层薄膜像 “热量桥梁”,破解了不同材料间的热阻问题,让热量顺畅流入金刚石。更关键的是,这种多晶金刚石涂层厚度仅几微米,能直接生长在芯片表面,甚至包裹住 3D 结构器件的侧面,真正实现 “零距离散热”。

在氮化镓射频晶体管中,金刚石涂层让器件温度骤降 70℃,X 波段射频信号放大能力提升 5 倍;

在 3D 堆叠芯片的模拟测试中,通过 “金刚石散热层 + 铜导热柱” 的散热支架设计,热点温度直接降到无支架时的 1/10;即便面对下一代将遭遇更严重发热问题的 CMOS 芯片,这项技术也能有效压制热点升温。

在该方案中,纳米级厚度的多晶金刚石层被集成到晶体管上方的介电层中,用于散热。这些金刚石层通过垂直的热导体(称为热柱)连接,热柱由铜或金刚石制成。这些热柱连接到另一个散热器,该散热器又连接到3D堆叠中下一个芯片上的热柱,以此类推,直到热量到达散热器或其他冷却装置。

化合积电是一家专注于宽禁带半导体材料研发、生产和销售的国家高新技术企业,核心产品有多晶金刚石(晶圆级金刚石、金刚石热沉片、金刚石窗口片、金刚石基复合衬底)、单晶金刚石(热学级、光学级、电子级、硼掺杂、氮掺杂)和金刚石复合材料等,引领金刚石及新一代材料革新,赋能高端工业化应用,公司产品广泛应用于激光器、GPU/CPU、医疗器械、5G基站、大功率LED、新能源汽车、新能源光伏、航空航天和国防军工等领域。

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